logo
Mengirim pesan
Produk
rincian produk
Rumah > Produk >
IEC62368-1-2018 Edisi 3.0 Lampiran V.1.3 Metode Uji 2 Probe Uji Tidak Terpadu

IEC62368-1-2018 Edisi 3.0 Lampiran V.1.3 Metode Uji 2 Probe Uji Tidak Terpadu

MOQ: 1
harga: To be quoted
kemasan standar: paket karton keselamatan atau kotak kayu lapis
Periode pengiriman: Persediaan barang
metode pembayaran: T/T
Kapasitas Pasokan: 1000 PC
Informasi Rinci
Tempat asal
Cina
Nama merek
kingpo
Sertifikasi
iso9001 ce
Bahan:
Nylon + stainless steel
Standar:
IEC62368 Lampiran V.1.3 Metode pengujian 2
Menyoroti:

probe jari artikulasi

,

ul probe jari

Deskripsi Produk

IEC62368 Lampiran V.1.3 Metode pengujian 2 Probe uji tidak tersambung

Bukaan diuji dengan probe uji lurus tak bersambung
Bukaan yang mencegah akses ke suatu bagian oleh probe uji bersendi yang berlaku pada Gambar V.1 atau Gambar V.2 diuji lebih lanjut dengan menggunakan versi yang tidak disambung lurus dari masing-masing probe uji yang diterapkan dengan gaya 30 N. Jika probe yang tidak disambungkan memasuki bukaan, metode uji 1 diulangi, kecuali bahwa versi uji sambungan uji yang disambungkan didorong melalui bukaan menggunakan kekuatan apa pun yang diperlukan hingga 30 N.
Pengemasan:
Produk
rincian produk
IEC62368-1-2018 Edisi 3.0 Lampiran V.1.3 Metode Uji 2 Probe Uji Tidak Terpadu
MOQ: 1
harga: To be quoted
kemasan standar: paket karton keselamatan atau kotak kayu lapis
Periode pengiriman: Persediaan barang
metode pembayaran: T/T
Kapasitas Pasokan: 1000 PC
Informasi Rinci
Tempat asal
Cina
Nama merek
kingpo
Sertifikasi
iso9001 ce
Bahan:
Nylon + stainless steel
Standar:
IEC62368 Lampiran V.1.3 Metode pengujian 2
Kuantitas min Order:
1
Harga:
To be quoted
Kemasan rincian:
paket karton keselamatan atau kotak kayu lapis
Waktu pengiriman:
Persediaan barang
Syarat-syarat pembayaran:
T/T
Menyediakan kemampuan:
1000 PC
Menyoroti

probe jari artikulasi

,

ul probe jari

Deskripsi Produk

IEC62368 Lampiran V.1.3 Metode pengujian 2 Probe uji tidak tersambung

Bukaan diuji dengan probe uji lurus tak bersambung
Bukaan yang mencegah akses ke suatu bagian oleh probe uji bersendi yang berlaku pada Gambar V.1 atau Gambar V.2 diuji lebih lanjut dengan menggunakan versi yang tidak disambung lurus dari masing-masing probe uji yang diterapkan dengan gaya 30 N. Jika probe yang tidak disambungkan memasuki bukaan, metode uji 1 diulangi, kecuali bahwa versi uji sambungan uji yang disambungkan didorong melalui bukaan menggunakan kekuatan apa pun yang diperlukan hingga 30 N.
Pengemasan: